光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量，它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度，I0为发射光强度，T为透射比，L为光通过原子化器光程由于L是不变值所以A=KC。光谱分析仪的屏幕显示测量条件、标记值、其它数据以及测量波形。屏幕各部分的名称显示如下：
1、光谱谱宽的测量
谱宽即光谱的带宽，使用光谱分析仪可以测量LD、发光二极管的谱宽。在光谱的谱宽测量时，要特别注意光谱分析仪系统分辨率的选择，即原理上光谱分析仪的分辨率应当小于被测信号谱宽的1/10.，一般推荐设置为至少小于被测信号谱宽的1/5。
在实际的测量中，为了能够准确测量数据，一般选择分辨率带宽为0.1nm以下。分辨率带宽RES位于SETUP菜单中的一项，直接输入所要设定的分辨率带宽的大小即可。当选择的分辨率带宽不同时，从光谱分析仪观察到的光谱形状有很大的不同，并且所测量得到的谱宽大小的不同。
在观察光谱谱宽的同时，也可以通过光谱分析仪读出光谱的中心频率、带宽、峰值功率和边模抑制比等参数。同时可以启动MARKER菜单，进行相应的标识，以方便量取所需要测试的参数值。
2、边模抑制比的测量
边模抑制比（Side-ModeSuppressionRaTIo，缩写为SMSR），SMSR表示峰值能级与横模能级之间的能级差值。
一般测量边模抑制比时，需要配合使用MARKER菜单和ANALYSIS菜单中相应的键。用MARKER菜单对主波峰值和高的副波峰进行标识，读取两者的峰值功率值。边模抑制比为高峰与次高峰之间的能级差。可以通过ANALYSIS菜单中相应的子选项计算得到后的值。
3、增益的测量
在进行OA板或光放大器模块测试的时候，需要测试增益参数（Gain）。增益定义为输出信号功率outP与输入信号功率inP之比。增益的一般表达式如式（1）所示：
以上的公式使用于以mw为单位的情况。若两者单位为dBm，则G的值为两者之差。
在进行增益的测量时，需要用到TRACE菜单中的相关选项。首先将TraceA设置为未接放大器之前的输入光，按下FixA；再将TraceB设置为经过光纤放大器之后的输出光，按下FixB;取两者的峰值功率，即可计算出。
